基于蒙特卡洛模拟的接触器释放时间合格率预测方法[CN201310177917.4] - 哈尔滨工业大学

专利申请

2013-05-14
公布公告

2016-04-20
授权日期

2016-04-20
终止

2026-04-18

基于蒙特卡洛模拟的接触器释放时间合格率预测方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201310177917.4 申请日期： 2013-05-14 专利主类别： G06F17/50 {{ classMap["G06F17/50"] }}

申请人名称：哈尔滨工业大学

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申请人地址：黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

专利分类项目

G06F17/50 :

专利注册信息

初审公告期号	2013-05-14	初审公告日期	2016-04-20
注册公告期号	2016-04-20	注册公告日期	2016-04-20
专用权期限	2016-04-20 - 2026-04-18	专利类型	发明授权
代理组织机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所查看该机构代理的所有专利

专利介绍

基于蒙特卡洛模拟的接触器释放时间合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对释放时间参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对释放时间有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组释放时间特性参数；进而获得释放时间参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的释放时间设计参数利用Simpson法则获得接触器释放时间合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器释放时间的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

法律进度