• 专利申请
    2024-01-08
  • 公布公告
    2024-02-13
  • 授权日期
    2024-03-26
  • 终止
    2034-02-10
正渗透膜的膜污染表征方法、装置、系统和电子设备
正渗透膜的膜污染表征方法、装置、系统和电子设备
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 有效专利
CN202410020808.X 2024-01-08 G16C60/00 {{ classMap["G16C60/00"] }}
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湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
专利分类项目

G16C60/00 :

G06F30/3323 :

G06F17/11 :

G06F17/16 :

G06F17/18 :

专利注册信息
初审公告期号 2024-01-08 初审公告日期 2024-02-13
注册公告期号 2024-03-26 注册公告日期 2024-03-26
专用权期限 2024-02-13 - 2034-02-10 专利类型 发明公开
代理组织机构 武汉智嘉联合知识产权代理事务所 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
本发明涉及正渗透膜的膜污染表征方法、装置、电子设备及介质，方法包括：获取阻抗分析仪采集的正渗透膜的阻抗数据；基于所述阻抗数据构建正渗透膜的等效电路模型，根据等效电路模型获取正渗透膜的电感数据；建立所述电感数据的概率密度函数，根据所述电感数据的概率密度函数确定正渗透膜的污染程度。本发明将电感作为正渗透膜的膜污染检测指标，建立电感数据的概率密度函数，根据所述电感数据的概率密度函数确定正渗透膜的污染程度，为检测正渗透膜在离子输送时受到的膜污染提供新的表征方法，解决了传统膜污染测试方法难以检测正渗透膜在离子输送时受到的膜污染的问题。
法律进度

  • 2024-03-26 授权 ...

  • 2024-03-01 实质审查的生效 IPC(主分类): G16C 60/00 专利申请号: 202410020808.X 申请日: 2024.01 ...

  • 2024-02-13 公开 ...

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