• 专利申请
    2021-01-19
  • 公布公告
    2022-09-06
  • 授权日期
    2022-09-06
  • 终止
    2032-09-03
一种高精度的数字散斑干涉相位定量测量方法
一种高精度的数字散斑干涉相位定量测量方法
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 有效专利
CN202110069385.7 2021-01-19 G01B11/25 {{ classMap["G01B11/25"] }}
浙江理工大学 查看申请人名下所有专利
浙江省杭州市江干经济开发区2号大街928号
专利分类项目

G01B11/25 : 通过在物体上投影一个图形，例如莫尔

专利注册信息
初审公告期号 2021-01-19 初审公告日期 2022-09-06
注册公告期号 2022-09-06 注册公告日期 2022-09-06
专用权期限 2022-09-06 - 2032-09-03 专利类型 发明授权
代理组织机构 杭州求是专利事务所有限公司 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
本发明公开了一种基于模糊理论的高精度数字散斑干涉相位测量方法。获取待测物变形前后的散斑干涉图，散斑干涉图处理得包裹相位图；滤波降噪后计算获得可靠度图；识别包裹相位图中的残差点，计算所有残差点对应的可靠度的平均值和可靠度图的标准差，据此建立隶属度函数，并使用隶属度函数对可靠度图进行模糊归类得隶属度矩阵；将隶属度矩阵作为可靠度图的权重进行加权平均获得掩膜阈值；利用掩膜阈值对可靠度图二值化得权重矩阵，并将权重矩阵作为权值迭代求解获得连续相位图，呈现待测物的变形量。本发明解决了可靠度掩膜中阈值选取的问题，能够根据输入包裹相位自适应掩膜阈值，提高了相位测量的效率和精度。
法律进度

  • 2022-09-06 授权 ...

  • 2021-06-01 实质审查的生效 IPC(主分类): G01B 11/25 专利申请号: 202110069385.7 申请日: 2021.01 ...

  • 2021-05-14 公开 ...

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