• 专利申请
    2022-07-21
  • 公布公告
    2024-06-11
  • 授权日期
    2024-06-11
  • 终止
    2034-06-09
一种测量干涉图像相位分布的五步相移信号处理光路
一种测量干涉图像相位分布的五步相移信号处理光路
* 专利信息仅供参考,不具有法律效力。 有效专利
CN202210872537.1 2022-07-21 G01B11/25 {{ classMap["G01B11/25"] }}
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北京市石景山区晋元庄路5号
专利分类项目
专利注册信息
初审公告期号 2022-07-21 初审公告日期 2024-06-11
注册公告期号 2024-06-11 注册公告日期 2024-06-11
专用权期限 2024-06-11 - 2034-06-09 专利类型 发明授权
代理组织机构 北京挺立专利事务所 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
本发明提供了一种测量干涉图像相位分布的五步相移信号处理光路,包括四分之一波片、透射率为33%的部分反射镜、透射率均为50%的四个半透半反镜、五个偏振片及五个CCD探测器。本发明不需要旋转器件就可在同一时刻获得5个叠加了相等间隔相移的干涉图像,避免了旋转器件法导致的测量时间较长以及由此带来的测量误差,使解算被测物体相位信息的过程更加快速、精度更高。
法律进度
  • 2024-06-11 授权 ...

  • 2022-11-08 实质审查的生效 IPC(主分类): G01B 11/25 专利申请号: 202210872537.1 申请日: 2022.07 ...

  • 2022-10-21 公开 ...

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